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KLA-Tencor Profiler 探针式台阶仪

    KLA-Tencor先进的探针式台阶仪,可精确测量纳米级 至2毫米台阶高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力,集高测量精度、多功能性和经济性于一体,是生产线及材料分析等应用领域的理想选择。
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