半导体参数化测试系统FS-Pro™，集成高速高精度IV，CV和低频噪声测试一体，产品迅速被领先的半导体公司，大学和研究机构采用在科研领域，短短一年时间内，FS-Pro™已被国内30多所大学及研究机构所采用，在先进器件和材料等领域的测试表现非常出色。它集 IV,CV 与 1/f noise测试于一体，高精度、低成本、综合的半导体器件表征分析能力灵活满足学术科研用户的不同测试需求，大大节省了测试设备采购开支。它是目前世界上唯一一款集成了所有常用低频特性测量于一体，在单台仪器内完成所有测试需求的半导体分析仪。工业标准的PXI模块化硬件结构，通用的软件平台，内置测量软件提供数百个预定义的测试模板和功能，实现即插即用体验，使其成为半导体器件与先进材料研究方面的得力助手。

采购用户有：台积电采购FS-Pro,华为采购FS-Pro,华为海思采购FS-Pro,中芯国际采购FS-Pro,清华大学采购FS-Pro,北京大学,复旦大学,浙江大学,南京大学,中科院微电子研究所,中科院半导体所等。